Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor

Abstract

Invenția se referă la domeniul tehnicii de măsurare și poate fi utilizată în aparate de măsurat, în care se utilizează senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi. Dispozitivul de măsurare a rezistenței senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaților include o sursă de tensiune de referință reglabilă Uref, conectată la ieșirea unui microcontroler și unită în serie cu senzorul nanostructurat cercetat Rx și un rezistor de referință Ro, punctul de legătură al căruia cu senzorul cercetat Rx este conectat la intrarea microcontrolerului, totodată circuitele comune al rezistorului de referință Ro, sursei de tensiune de referință Uref și ale microcontrolerului sunt unite la pământ.